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欧波同公益讲堂:电子组件失效分析技术与案例研究

来源:欧波同|

发表时间:2022-05-26

点击:3927

课程主题

《电子组件失效分析技术与案例研究》—— 主讲专家:罗道军
《电子半导体显微分析解决方案》—— 主讲嘉宾:苏瑞雪

直播时间


2022年5月26日(星期四)15:00-17:00 

☑ 14:50-15:00

观众签到


☑ 15:00-16:30

《电子组件失效分析技术与案例研究》 罗道军


☑ 16:30-17:00

《电子半导体显微分析解决方案》苏瑞雪


☑ 17:00-17:10

福利抽奖




《电子组件失效分析技术与案例研究》—— 主讲专家:罗道军
☑ 15:00-16:30

内容简介

本课程首先介绍电子组件的技术范畴以及可靠性的重要作用,在概述了失效分析的基本概念、流程、作用以及基本要求的基础上,介绍适用于电子组件的失效分析技术,包括失效定位技术、制样技术、特征表征技术、失效机理和原因验证技术,基本囊括了目前组件常用的各类失效分析技术,为了更好地理解和运用失效分析技术,最后通过案例分析的方式分享约7类失效模式下的21个典型的失效案例。

主讲专家




罗道军 研究员级高工
工业和信息化部电子第五研究所元器件检测中心主任


罗道军,研究员级高工。现任工业和信息化部电子第五研究所元器件检测中心主任,我国电子产品可靠性工程领域知名专家。主要从事电子材料、电子元器件、组件及其先进工艺可靠性研究、分析和检测、标准起草和管理工作,25年电子行业可靠性工程经验。目前任全国印制电路准化技术委员会副主任委员、中国电子学会高级会员以及广东省SMT专委会副主任委员,中国新材料测试联盟副理事长、广东省半导体及集成电路产业发展专家咨询委员会专家等。至今已经发表各类论文40余篇,出版或合作出版专著四部,主持或参与各种标准制定20余项; 主持解决了我国众多重点工程的可靠性问题,为我国很多重点行业重点型号装备的快速发展做出了重要贡献。


《电子半导体显微分析解决方案》—— 主讲嘉宾:苏瑞雪

☑ 16:30-17:00


内容简介

电镜表征技术在半导体行业检测&表征中的应用:
1、电镜前沿表征技术在半导体分析中的案例介绍;
2、高质量横截面的获取;
3、三维表征技术的行业应用与发展。

主讲嘉宾



苏瑞雪 业务发展(BD)工程师
欧波同创新研究中心


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