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来源：何超|
发表时间：2017-11-13
点击：4085
仪器型号：S-4800
测试分类：SEM SEM MAPPING SEM EDX
测试要求：样品必须是化学上物理上稳定的干燥固体，表面清洁，在真空中及电子束轰击下不挥发或变形，无反射和腐蚀性
尺寸和形态上无严格要求，X射线微区成分分析试样必须磨平，抛光。
试样必须导电，对于不导电试样或镶嵌试样，需附有导电胶带
测试周期：5个工作日
联系人：何超 15195693784
